檢測(cè)優(yōu)勢(shì)

1、初檢樣品小樣，初檢期間不收取任何費(fèi)用。

2、健明迪檢測(cè)國(guó)家高新技術(shù)企業(yè)。

3、健明迪檢測(cè)所出具的食品檢測(cè)報(bào)告認(rèn)可，支持掃碼查詢真?zhèn)巍?/p>

4、健明迪檢測(cè)多家實(shí)驗(yàn)室分支，支持上門取樣，也支持寄樣檢測(cè)。

5、檢測(cè)周期全，檢測(cè)費(fèi)用低，實(shí)驗(yàn)方案齊全。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

激光光學(xué)元件測(cè)試方法 GJB1487-92101

光學(xué)和光子學(xué)一平面光學(xué)元件的透射率和反射率測(cè)量 ISO 15368：2021 8.1.3

激光棒波前暗變的測(cè)量方法 GB/T 11297.1-2017

光學(xué)零件的面形偏差 GB/T2831-20097.3

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫 GB/T 2423.1-2008/IEC60068-2-1：20075.2

光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第2部分：低溫、高溫、濕熱 GB/T 12085.2-20104.2.2

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫 GB/T 2423.2-2008/IEC 60068-2-2：20075.2

光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第2部分：低溫、高溫、濕熱 GB/T 12085.2-20104.2.3

環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn) GB/T 2423.3-2016/IEC 60068-2-78：2012

光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第2部分：低溫、高溫、濕熱 GB/T 12085.2-20104.2.4

檢測(cè)項(xiàng)目

透過(guò)率，反射率，波前畸變，面形偏差，低溫，高溫，濕熱等

檢測(cè)周期：7-15個(gè)工作日，試驗(yàn)可加急