晶體應(yīng)力檢測(cè)
健明迪檢測(cè)提供的晶體應(yīng)力檢測(cè)，檢測(cè)項(xiàng)目：內(nèi)應(yīng)力檢測(cè)，性能檢測(cè)等，檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)參考：GB/T7704-2017無(wú)損檢測(cè)X射線應(yīng)力測(cè)定方法，具有CMA，CNAS認(rèn)證資質(zhì)。
為什么選擇健明迪檢測(cè)檢測(cè)中心?
1、高新技術(shù)企業(yè)，檢測(cè)資質(zhì)齊全，儀器先進(jìn)，科研團(tuán)隊(duì)強(qiáng)大
2、檢測(cè)周期更短，實(shí)驗(yàn)方案更齊全，科研團(tuán)隊(duì)更強(qiáng)大
3、初檢樣品，初檢期間不收取任何費(fèi)用，制定詳細(xì)的實(shí)驗(yàn)方案
4、檢測(cè)報(bào)告認(rèn)可，支持掃碼查詢真?zhèn)?/p>
5、有多家實(shí)驗(yàn)室分支，支持客戶上門取樣/寄樣檢測(cè)服務(wù)
6、與客戶簽訂保密協(xié)議，嚴(yán)格保護(hù)客戶隱私
我們出具的檢測(cè)報(bào)告可以幫您解決那些問(wèn)題?
1、科研數(shù)據(jù)使用
2、投標(biāo)競(jìng)標(biāo)使用
3、研發(fā)使用
4、模擬生產(chǎn)，配方檢測(cè)，配方改善，配方還原等
5、工業(yè)問(wèn)題診斷
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)參考
GB/T 7704-2017無(wú)損檢測(cè) X射線應(yīng)力測(cè)定方法
JB/T 9495.4-1999光學(xué)晶體應(yīng)力雙折射 測(cè)量方法
JJF (電子)0014-2018功率半導(dǎo)體器件老化系統(tǒng)校準(zhǔn)規(guī)范
檢測(cè)樣品：晶體
檢測(cè)項(xiàng)目：內(nèi)應(yīng)力檢測(cè)，性能檢測(cè)等
檢測(cè)周期：7-15個(gè)工作日(參考周期)
檢測(cè)項(xiàng)目：內(nèi)應(yīng)力檢測(cè)，性能檢測(cè)等，檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)參考：GB/T 7704-2017無(wú)損檢測(cè) X射線應(yīng)力測(cè)定方法。健明迪檢測(cè)國(guó)家高新技術(shù)企業(yè)，檢測(cè)資質(zhì)齊全，實(shí)驗(yàn)室儀器先進(jìn)。
