檢測優勢

1、初檢樣品小樣，初檢期間不收取任何費用。

2、健明迪檢測國家高新技術企業。

3、健明迪檢測所出具的食品檢測報告認可，支持掃碼查詢真偽。

4、健明迪檢測多家實驗室分支，支持上門取樣，也支持寄樣檢測。

5、檢測周期全，檢測費用低，實驗方案齊全。

檢測流程

1、寄樣。(咨詢工程師提交檢測需求，然后給我們郵寄樣品)

2、初檢樣品。(收到樣品之后，初檢樣品，制定詳細的實驗方案)

3、報價。(初檢之后，根據實驗復雜程度以及客戶檢測需求進行報價)

4、雙方確定，簽訂保密協議，開始實驗。(嚴格保護客戶隱私)

5、結束實驗。(7-10個工作日完成實驗)

6、郵寄檢測報告，后期服務。

檢測標準參考

BS 6493-1-3-1986半導體器件.分立器件.信號(包括開關)和調節二極管推薦規范

BS 6493-1-5-1992半導體器件.分立器件.光電子器件的推薦方法

BS EN 60747-5-2-2001半導體分立器件和集成電路 第5-2部分:光電子器件 基本額定值和特性 修正13433:2002年1月8日; IEC 61747-5-2:1997;重新編號BS IEC 60747-5-2:1997

BS EN 60747-5-3-2001半導體分立器件和集成電路 第5-3部分:光電子器件 試驗方法 IEC 61747-5-3:1997;重新編號BS IEC 60747-5-3:1997

BS EN 60747-16-4-2004半導體分立器件.微波集成電路.開關

BS IEC 60747-2-2000半導體器件 分立器件和集成電路 第2部分:整流二極管 替代BS 6493-1-2: 1984

BS IEC 60747-4-2-2000半導體器件.分立器件.微波二極管和晶體管.集成電路微波放大器.空白詳細規范

BS IEC 60747-8-4-2004半導體分立器件.電力開關設備的金屬氧化物半導體場效應晶體管

CEI EN 60191-1-2008半導體器件的機械標準化。第1部分:分立器件外形圖制備的一般規則。第一版

CEI EN 60747-15-2012半導體器件.分立器件.第15部分:隔離功率半導體器件

DIN EN 60747-5-5-2011半導體器件 分立器件 第5-5部分：光電子器件 光電耦合器

DIN EN 60747-15-2004半導體分立器件 第15部分:隔離的功率半導體器件

DIN EN 60875-1-2002非波長選擇光纖分立器件.第1部分:總規范

DIN EN 181103-1998空白詳細規范.纖維光學分立器件.型式:通信用無波長選擇傳輸星

DIN EN 181104-1998空白詳細規范.纖維光學分立器件.型式:通信用有波長選擇傳輸星

DIN IEC 747-7-1997半導體器件.分立器件和集成電路.第7部分:雙極晶體管

DIN IEC 60747-2-2001半導體器件.分立器件和集成電路.第2部分:整流二極管

DIN IEC 60747-3-1992半導體器件.分立器件.第3部分:信號二極管(包括開關二極管和穩壓二極管)

DIN IEC 60747-10-1987半導體器件.第10部分:分立器件和集成電路總規范

GB/T 249-2017半導體分立器件型號命名方法