砷化鎵檢測(cè)
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)參考
ASTM F1404-1992(2007)用液態(tài)氫氧化鉀蝕刻技術(shù)測(cè)定砷化鎵晶體完整性的試驗(yàn)方法
CECC 12 001- 007 ISSUE 1-1984圖象增強(qiáng)器:夜視設(shè)備,合成砷化鎵光電陰極以及電影錄音微通道金屬板用探測(cè)聚焦翻轉(zhuǎn)顯象管
DIN 50454-1-2000半導(dǎo)體工藝材料的檢驗(yàn).Ⅲ-Ⅴ化合物半導(dǎo)體單晶中錯(cuò)位腐蝕斑點(diǎn)密度的測(cè)定;砷化鎵
GB/T 4326-2006非本征半導(dǎo)體單晶霍爾遷移率和霍爾系數(shù)測(cè)量方法
GB/T 6494-2017航天用太陽電池電性能測(cè)試方法
GB/T 8757-2006砷化鎵中載流子濃度等離子共振測(cè)量方法
GB/T 8758-2006砷化鎵外延層厚度紅外干涉測(cè)量方法
GB/T 8760-2020砷化鎵單晶位錯(cuò)密度的測(cè)試方法
GB/T 11068-2006砷化鎵外延層載流子濃度電容-電壓測(cè)量方法
GB/T 11093-2007液封直拉法砷化鎵單晶及切割片
GB/T 11094-2020水平法砷化鎵單晶及切割片
GB/T 17170-2015半絕緣砷化鎵單晶深施主EL2濃度紅外吸收測(cè)試方法
GB/T 18032-2000砷化鎵單晶AB微缺陷檢驗(yàn)方法
GB/T 19199-2015半絕緣砷化鎵單晶中碳濃度的紅外吸收測(cè)試方法
GB/T 20228-2006砷化鎵單晶
GB/T 20228-2021砷化鎵單晶
GB/T 24578-2015硅片表面金屬沾污的全反射X光熒光光譜測(cè)試方法
GB/T 25075-2010太陽能電池用砷化鎵單晶
GB/T 30856-2014LED外延芯片用砷化鎵襯底
GB/T 32280-2015硅片翹曲度測(cè)試 自動(dòng)非接觸掃描法
檢測(cè)樣品：砷化鎵
檢測(cè)項(xiàng)目：表面缺陷檢測(cè)，外觀檢測(cè)，指標(biāo)檢測(cè)，含量檢測(cè)等。
檢測(cè)周期：7-15個(gè)工作日(參考周期)
砷化鎵檢測(cè)項(xiàng)目：表面缺陷檢測(cè)，外觀檢測(cè)，指標(biāo)檢測(cè)，含量檢測(cè)等。健明迪檢測(cè)檢測(cè)周期短，費(fèi)用低，試驗(yàn)方案全，一直秉著研發(fā)貢獻(xiàn)精神服務(wù)客戶，全國多家實(shí)驗(yàn)室分支，支持上門取樣/寄樣檢測(cè)服務(wù)，真正的一站式檢測(cè)服務(wù)。
