檢測流程

1、溝通檢測產(chǎn)品、項目、需求。

2、郵遞寄樣或者上門取樣。

3、確定報價，定制專屬方案。

4、簽訂合同和保密協(xié)議

5、開始規(guī)劃化實驗

6、實驗結(jié)束后，出具原始數(shù)據(jù)檢測報告。

6、郵寄檢測報告

7、增值服務

第三方檢測報告作用

1、銷售使用。(檢測報告用于銷售產(chǎn)品，讓客戶了解產(chǎn)品)

2、研發(fā)使用。(研發(fā)新的產(chǎn)品，縮短研發(fā)周期，降低研發(fā)成本)

3、投標競標使用。(檢測報告用于投標競標使用，評分較高)

4、改善產(chǎn)品使用。(通過檢測數(shù)據(jù)來改善自己產(chǎn)品的質(zhì)量，提高產(chǎn)品質(zhì)量)

5、逆向生產(chǎn)，模擬生產(chǎn)。(通過檢測成分，實現(xiàn)逆向生產(chǎn))

6、科研項目，高校論文。(代做高校實驗，檢測數(shù)據(jù)用于科研項目或者論文使用)

檢測優(yōu)勢

1、集體所有制單位，主要以研發(fā)，檢測，分析為主。經(jīng)驗豐富，服務面廣。

2、支持上門取樣，寄樣檢測。

3、所有的樣品初檢都是免費的。

4、口碑好，主要服務于政府單位、事業(yè)單位、大學科研單位，企業(yè)以及部分個人客戶。

5、實驗室科研團隊強大，實驗室儀器先進并且齊全。

6、實驗室分支比較多，多家分支實驗室。

7、檢測周期短、費用低、數(shù)據(jù)科學準確。

8、提供完善的售后服務。

9、健明迪檢測出具的檢測報告支持掃碼查詢真?zhèn)危瑘蟾嬲J可。

10、所有實驗都會簽訂保密協(xié)議，注重保護客戶隱私。

檢測標準參考

DIN 50434-1986半導體材料的檢驗; 單晶硅試樣的(111) 和(100) 蝕面上晶體結(jié)構(gòu)缺陷的測定

DIN 50443-1-1988半導體工藝使用材料的檢驗.第1部分:用X射線外形測量法檢測半導體單晶硅中晶體缺陷和不均勻性

DIN 50443-2-1994半導體工藝材料檢驗;用X射線粘撲法證明半導體單晶硅中晶體缺陷和不均勻性.Ⅲ-V-連接半導體

DIN 50453-1-1990半導體技術(shù)用材料的檢驗;腐蝕劑腐蝕率的測定;單晶硅,重量法

GB/T 6492-1986航天用標準太陽電池

GB/T 6494-2017航天用太陽電池電性能測試方法

GB/T 6496-2017航天用太陽電池標定方法

GB/T 14015-1992硅-蘭寶石外延片

GB/T 20176-2006表面化學分析 二次離子質(zhì)譜 用均勻摻雜物質(zhì)測定硅中硼的原子濃度

GB/T 29054-2019太陽能電池用鑄造多晶硅塊

GB/T 29055-2019太陽能電池用多晶硅片

GB/T 29057-2012用區(qū)熔拉晶法和光譜分析法評價多晶硅棒的規(guī)程

GB/T 29195-2012地面用晶體硅太陽電池總規(guī)范

GB/T 32277-2015硅的儀器中子活化分析測試方法

GB/T 32649-2016光伏用高純石英砂

GB/T 32651-2016采用高質(zhì)量分辨率輝光放電質(zhì)譜法測量太陽能級硅中痕量元素的測試方法

GB/T 33236-2016多晶硅 痕量元素化學分析 輝光放電質(zhì)譜法

GB/T 38190-2019航天用太陽電池電子輻照試驗方法

GOST 19658-1981單晶硅錠 技術(shù)條件

GOST 24392-1980單晶硅和單晶鍺 電阻率的四探針測定法