檢測(cè)流程

1、寄樣

2、初檢樣品

3、報(bào)價(jià)

4、雙方確定，簽訂保密協(xié)議，開(kāi)始實(shí)驗(yàn)

5、7-10個(gè)工作日完成實(shí)驗(yàn)

6、出具檢測(cè)報(bào)告，后期服務(wù)。

我們的檢測(cè)優(yōu)勢(shì)

1、健明迪檢測(cè)是集體所有制檢測(cè)機(jī)構(gòu)，雙高新技術(shù)企業(yè)。

2、初檢樣品，初檢期間不收取檢測(cè)費(fèi)用。

3、多家實(shí)驗(yàn)室分支，支持上門(mén)取樣/寄樣檢測(cè)。

4、檢測(cè)周期短，檢測(cè)費(fèi)用，實(shí)驗(yàn)方案齊全。

5、資質(zhì)齊全，實(shí)驗(yàn)室儀器先進(jìn)，科研團(tuán)隊(duì)強(qiáng)大。

6、36種語(yǔ)言支持編寫(xiě)MSDS服務(wù)

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

ASTM B244-2009(2014)用渦流儀測(cè)量鋁的陽(yáng)極鍍層厚度及非磁性基底金屬的其它非導(dǎo)電鍍層厚度的測(cè)量方法

ASTM B530-2009(2014)用磁性法測(cè)量磁性和非磁性基底上電解沉積鎳鍍層厚度的方法

ASTM B555-1986(2013)用點(diǎn)滴試驗(yàn)法測(cè)量電解沉積金屬鍍層厚度的導(dǎo)則

ASTM B567-1998(2014)用β射線反向散射法測(cè)量鍍層厚度的試驗(yàn)方法

ASTM B568-1998(2014)用X射線光譜測(cè)定法測(cè)量鍍層厚度的試驗(yàn)方法

ASTM B659-1990(2014)金屬及無(wú)機(jī)鍍層厚度測(cè)量指南

BS EN ISO 1463-2004金屬和氧化物鍍層.鍍層厚度的測(cè)定.顯微鏡法

BS EN ISO 2177-2004金屬鍍層.鍍層厚度的測(cè)量.陽(yáng)極分解的電量計(jì)法

BS EN ISO 2361-1995磁性和非磁性基質(zhì)的鎳電鍍層.鍍層厚度的測(cè)量.磁性法

BS EN ISO 4518-1995金屬鍍層.鍍層厚度的測(cè)量.表面光法度輪廓儀法